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Glossar - Messtechnik-Begriffe einfach erklärt
Aberration, chromatische Absolute Wegaufnehmer Absorption Abstandssensoren Abtastrate Abtasttheorem Aktor AMA - Fachverband für Sensorik e. V. Analoger Ausgang Ansprechzeit Anstiegszeit ASIC ATEX Auflösung Ausgaberate Ausstrahlung Ausstrahlung, spektrale spezifische Ausstrahlung, spezifische Average Bandbreite Baudrate Betriebstemperatur Bolometer Brennpunkt CANopen capaNCDT CCD-Zeile CE - Richtlinie CENELEC CMU-Modul Datenblatt, technisches Datenübertragungsrate DCAM Device Net Digitaler Ausgang Distanzsensoren DKD DMS Echtzeit eddyNCDT Elektromagnetische Verträglichkeit (EMV) Embedded Coil Technology Emissionsgrad Empfindlichkeit Empfänger Encoder Encoder, absolut Encoder, inkremental Federkonstante Ferro Ferro, nicht Firmware Fokus FOV FPA Fremdlicht, zulässiges Frequenzspektrum Genauigkeit Glas- / Gradientenindexlinse Grauer Körper Grenzfrequenz Grundabstand Halbduplex Hochdruckfest Hochtemperatursensor / Hochtemperaturfest HTL Hysterese ICONNECT IFOV induSENSOR IR-Temperaturmessung Justieren Kabel, halogenfrei Kalandrieren Kalibrieren Kapazitives Messverfahren Kennlinie Konfokal-chromatisch Kurzschlussfestigkeit Lagertemperatur Langzeitstabilität Laser Sensor Laser-Triangulation Laserschutzklasse Laufzeit-Messprinzip Lichtfleckdurchmesser Lichtleiter Linearität Lumen, Einheit Lux, Einheit LVDS LVDT Linearer Variabler Differential Transformator Magnetfelder bei induktiven Sensoren Master / Slave MDS Mean Median Messbereich Messbereichsanfang, Messbereichsmitte, Messbereichsende Messfrequenz Messgerät Messobjekt Messobjektdurchmesser Messrate Monochromatisch NETD Nicht-Linearität Offset Optische Sensoren optoCONTROL optoNCDT OSI - Schichtenmodell Polling Polychromatisch Positionssensoren Potentiometer Profibus DP PB Prozessfähigkeitsindex Prozessfähigkeitsindex, kleinster Quantisierungsfehler Rauschen Rauschen, thermisches Referenzauflösung Referenztemperatur Reflexion, diffus Reflexion, optische Reflexion,direkt Reflexionsgrad Reproduzierbarkeit RS232 Interface RS422 Interface RS485 Interface RTSC Samplingrate scanCONTROL Schirmelektrode Schirmelektrodenbreite Schock Schutzart Schwarzer Strahler SDK Seilzugsensor Sender Sensor Sensormessfläche, aktiv Signal-Rausch-Verhältnis Simplex SMD Spektralbereich SSI Störaussendung Störfestigkeit Subpixel-Auflösung Synchronisation Target Telemetrie Temperaturbereich Temperaturmessbereich, infrarot Temperaturstabilität Thermoelement thermoMETER Transmission Triggerung TTL Übersprechen Verkippung Verpolschutz Vibration Vollduplex Wegsensoren Wellenlänge Wiederholbarkeit Wirbelstrom wireSENSOR X-Achse Y-Achse Z-Achse Zugfestigkeit
Nächste Messeteilnahme:
ALUMINIUM (Essen, DE) 14.09.2010 - 16.09.2010
K 2010 (Düsseldorf, DE) 27.10.2010 - 03.11.2010
Electronica (München, DE) 09.11.2010 - 12.11.2010
Micro-Epsilon Zentrale
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