Mehr Präzision
 

Deflektometrie-Oberflächeninspektion in der Prozesslinie (RC compact)

Details

Für Messobjekte bis DIN A4 Format
Messtisch in bis zu 3 Achsen verkippbar
Variable Anlagendimensionen für größere Messobjekte
Gesicherte Anlage durch Lichtvorhang
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