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Mess- und Prüfsysteme für die Halbleiterindustrie

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Waferkanteninspektion Ingot-Geometrie--34pxGeometrieprüfsystem für Silizium-Bricks

Inspektionsaufgaben in der Halbleiterindustrie erfordern extreme Genauigkeit und Zuverlässigkeit. Optische Inspektionssysteme von Micro-Epsilon überzeugen durch bestechende Präzision.

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Hohe Präzision
Innovative Messsysteme
Qualitätssteigernd
Höhere Prozesssicherheit

Anwendungsbeispiele

 
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Kontakt

Siegfried Kalhofer

Phone +49 8542 / 168 - 172
Fax +49 8542 / 168 - 92 172
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